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  • 产品名称: GUT-6000B 数字IC测试仪
  • 产品编号: GUT6000B
  • 上架时间: 2012-10-18
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GUT-6000B  数字IC测试仪

 

特点
循环测试
自动搜寻
自我诊断
过载保护
测量1800种设备
支持54/74系列TTL
支持4000和5000系列CMOS
测试管脚:28 pin

 

测试范围

 

54/74 系列 TTL

4000 及 4500 系列 CMOS

DRIVE

量测种类

 

约 1800 

测试电压

 

2.5/3.0/3.3/5V DC

测试时间

 

高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC

使用电源

 

交流 100V~240V +10%, 50/60Hz

尺寸及重量

 

335() x 105() x 300() mm
约 1.5 公斤

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